第一章 微纳尺度测量概论

• 我们应当根据样品的尺寸和我们观测的需求来决定选择哪种仪器。( )
• 石墨烯、碳纳米管、金刚石都是由碳原子组成的,但是它们之间原子键的类型和结构组成不同,这导致了…
• 光学显微镜()是利用光学原理,把人眼所不能分辨的微小物体放大成像,以供人们提取微细结构信息的光…
• 细菌的尺寸大于病毒。( )
• 尺寸效应(Size Effect)指当材料的尺寸减小至一定程度,其性质发生突变的效应。( )…
• 与扫描隧道显微镜相比,原子力显微镜能够观测非导电的绝缘样品。( )…
• AFM是继STM之后发明的一种具有原子级高分辨的仪器。( )
• 中子能量和波长正好适合探测凝聚态物质。( )
• 中子的穿透能力比电子强。( )
• 透射电子显微镜主要利用了电子与物质的相互作用。( )
• Transmission Electron Microscopy的分辨率是Å to nm,乃至μm。( )
• Scanning Tunneling Microscopy的分辨率是Å to nm。( )
• 金属纳米线是“自下而上”制造的,即通过组装更小的组件来构建一些东西。( )…
• 费曼提出了操控原子的可能性。( )
• Scanning Tunneling Microscopy是扫描透射电子显微镜。( )
• 在量子力学中,一个物理体系的状态由波函数表示,波函数的任意线性叠加仍然代表体系的一种可能状态…
• 海森堡测不准原理指不可能同时精确确定一个基本粒子的位置和动量。( )…
• 碳纳米管是1D的。( )
• 1m等于106μm。( )
• 人类血红细胞的直径大约是2-5μm。( )
• 以下属于0D结构的是____ A量子点 B碳纳米管 C单层石墨烯 D金刚石
• 以下不是由碳组成的纳米结构是____ A富勒烯 B碳纳米管 C单层石墨烯 D磷烯…
• 小明想要观测一个纳米尺度的样品,以下仪器不适合选择的是____ ASTM BTEM COM DAFM…
• 以下尺寸最小的是____ A病毒 B细菌 C细胞 D真菌
• 宏观尺度下的应变梯度在纳米尺度下可以高出6个数量级,这种现象属于____ A表面效应 B尺寸效应 …
• 下列选项中STM不可以观测的是____ A原子中原子核的结构 B蛋白质和DNA的结构 C晶体的原子结构 …
• AFM不可以测试下列哪一项____ A畴 B畴壁 C形貌高度 D晶格结构
• 以下不属于中子散射实验技术的优点的是____ A穿透力强 B中子带电荷 C可鉴别同位素 D具有磁矩…
• 以下穿透能力最强的是____ A原子 BX射线 C电子 D中子
• 以下不属于这门课的教学范围的是____ A透射电子显微镜 B扫描隧道显微镜 C原子力显微镜 D引力…
• X-ray Diffraction的分辨率范围大致是____ AÅ Bnm Cμm Dmm
• Atomic Force Microscopy的分辨率范围大致是____ AÅ to nm Bnm to μm Cμm to mm Dmm to m…
• 金属纳米线是____制造的 A“Top-down”(“自上而下”) B“Bottom-up”(“自下而上”) C“insi…
• 表面积与体积之比是____ A外表面积 B相对表面积 C比表面积 D体表面积…
• 扫描隧道显微镜的英文缩写是____ ASTM BTEM CSTEM DAFM
• 在量子力学中,一个物理体系的状态由____表示 A动量 B速度 C电子云 D波函数…
• 海森堡测不准原理的关系式为____
• 石墨烯的维度是____ A0D B1D C2D D3D
• 1nm等于____m A10-3 B10-6 C10-9 D10-12
• 人类头发丝的直径大约是10-50____ Am Bcm Cμm Dnm

第二章 光学显微镜基本原理与应用

• 以下不属于光学显微镜的是（ ）
• 光学显微镜的放大倍数为目镜的放大倍数乘以物镜的放大倍数。( )
• 调焦时先用粗准焦螺旋,后用细准焦螺旋。( )
• 光学显微镜具有透射模式和反射模式。( )
• 由低倍镜换成高倍镜的过程中,只需要调细准焦螺旋。( )
• 若载玻片上有字“上”,则视野下呈现为“下”。( )
• 通过光学显微镜可以观察在特殊衬底上的石墨烯。( )
• 光学显微镜中相位制造衬度的原理获得了诺贝尔物理学奖。( )
• 降低物镜折射率能够获得更好的分辨率。( )
• 光学显微镜中的DIC制造衬度的方式利用了光的吸收与光的偏振。( )
• 虎克是最早观察到细胞的科学家。( )
• 若视野中细胞质流向是逆时针的,则细胞中细胞质的流向应是顺时针的。( )…
• 光学显微镜中利用物质和光的相互作用可以制造衬度。( )
• 利用光学显微镜可以观测病毒()
• 在观察细胞的实验中,需先用低倍镜下找到目标,再换用高倍镜进行观察。( )…
• 调光时,双手的拇指和食指捏着反光镜的侧边进行调节。( )
• 转动转换器时,用手指掰着物镜转动。( )
• 暗场模式下主光轴经过样品制造衬度。( )
• 下降镜筒时,眼睛通过目镜观察。( )
• 显微镜的使用步骤:取镜安放、对光、放片、调焦、观察、整理存放。( )…
• 显微镜的光学系统主要包括物镜、目镜、反光镜和聚光器四个部件。( )…
• 取用安装有镜头的显微镜时,如果只用一只手握住镜臂,将易滑出、跌落、损坏的是() A目镜 B物镜 …
• 调换高倍镜后,物像模糊不清,这时应调节() A粗准焦螺旋 B细准焦螺旋 C反光镜 D光圈…
• 以下不属于制造衬度的方法为() A暗场模式 B相位衬度 C使用高倍物镜 D使用偏振光…
• 在将显微镜的低倍物镜换成高倍物镜并寻找物像的过程中,不应出现的操作过程是() A转动细准焦螺旋…
• 在低倍镜下视野较亮,物像清晰,但转换高倍镜后物像很暗不便观察,此时应() A移动装片 B调节反光…
• 可以提高数值孔径方法不正确的是() A样品浸润在油中 B使用高倍物镜 C增大收集光的范围 D使用…
• 用显微镜观察标本时,第一次使用的是5 目镜、10 物镜,第二次使用的是10 目镜、40 物镜,那么第…
• 遮光器上光圈的作用是() A调节焦距 B调节视野亮度 C调节光线亮度 D调节图像清晰度…
• 用普通光学显微镜观察切片,当用低倍显微镜看清楚时,转换为高倍显微镜下却看不到或看不清原来观察…
• 下列哪一项不属于影响显微镜分辨率的原因() A透镜具有色差 B透镜具有相差 C所使用光的波长范…
• 用显微镜进行观察时,若要转换物镜,需要调节() A转换器 B光圈 C反光镜 D目镜…
• 若显微镜的目镜放大倍数为10 ,物镜放大倍数为10 ,那么物像的放大倍数是() A10 B20 C100 D4…
• 光线经过孔径时以下哪个物理现象主要影响分辨率() A衍射 B反射 C干涉 D光的吸收…
• 下列哪一项不是光学显微镜的功能() A放大物体 B展现细节 C制造衬度 D进行原子操控…
• 下列部件中对物体起放大作用的一组是() A物镜、目镜 B反光镜、物镜 C反光镜、目镜 D镜筒、转…
• 在低倍镜下观察时视野所见的图像是“b”,那么载玻片上的物像是() A“b” B“p” C“q” D“d…
• 用显微镜进行观察时,在低倍镜视野中发现有一异物,当移动装片时,异物不动;转换高倍镜后,异物仍可…
• 提出显微镜具有分辨率极限的科学家为() AErnst Abbe BRayleigh CCarl Zeiss DOtto Schott…
• 光学显微镜是谁发明的() A爱迪生 B亚斯 詹森 C罗伯特 胡克 D伽利略…

第三章 透射电子显微镜基本原理与应用

• 胶片不可以用于透射电子显微镜的成像。()
• 透射电子显微镜的透镜可以对电子束进行聚焦,但是聚焦的角度只是固定的参数。()…
• 透射电子显微镜无法观察液体样品。()
• 透射电子显微镜中的透镜可以使用静电效应,但是不可以使用磁效应。()…
• 透射电子显微镜中,场发射枪部分不需要真空。()
• 透射电子显微镜通常不允许装备操作人员将样品倾斜一定角度的夹具。()…
• 如果选择的反射电子束不包括位于透镜焦点的未散射电子束,那么在图像上没有样品散射电子束的位置…
• TEM不能看到电子能量损失谱。()
• 对修正后的波函数进行拉普拉斯反变换,得到图像平面上的波函数。()
• 当允许多个波相互作用时,相位差表现在图像平面的二维衍射模式中。()…
• 透射电镜不能看到晶体结构。()
• 透射电子显微镜不需要真空环境。()
• 透射电子显微镜是把经加速和聚集的电子束投射到非常厚的样品上。()…
• 透射电子显微镜简称SEM。()
• 下图所展示的是TEM的什么成像模式()  A暗场成像 B衍射斑点成像 C扫描透射电子显微成像 DHA…
• 下列不是影响透射电子显微镜晶体消光距离的主要物性参数和外界条件__? A晶胞体积 B结构因子 CBra…
• 要制备薄膜用于透射电镜测试,下列说法不正确的是__ A薄膜样品的组织结构必须和大块样品相同,在制…
• 透镜的数目一般由透射电子显微镜所需的电子光学放大倍数决定,也取__ A透射电子显微镜的分辨率 …
• 高电压透射电子显微镜需要极高的真空度,通常要达到10−7 至10−9 帕以防止产生电弧,特别是在透射…
• 光学显微镜不同,对透射电子显微镜的光学配置可以非常快,这是由于位于电子束通路上的透镜可以通过…
• 在透射电子显微镜中,电场可以使电子偏斜固定的角度。通过对电子束进行连续两次相反的偏斜操作,可…
• 透射电子显微镜中,电子透镜对电子束的作用类似于光学透镜对光线的作用,它可以将平行的电子束聚集…
• 透射电子显微镜中,通过调整磁透镜使得成像的光圈处于透镜的后焦平面处而不是像平面上,就会产生衍…
• 透射电子显微镜中,通过使用采用电子能量损失光谱学这种先进技术的光谱仪,适当的电子可以根据它们…
• 透射电子显微镜 可以确定晶体缺陷的位置,也能确定缺陷的类型。( )
• 复杂的成像技术通过改变透镜的强度或取消一个透镜等等构成了许多的操作模式。( )…
• 透射电子显微镜中的对比度信息与操作的模式关系很大。( )
• 透射电子显微镜利用了电子的波动性质( )
• 电磁透镜的主要元件包括外壳、磁线圈、磁极、及外部控制电路组成。( )…
• 透射电子显微镜的成像系统包括一个可能由颗粒极细(10-100微米)的硫化锌制成荧光屏,可以向操作者…
• HADDF探测器探测的角度范围为>50 mrad。( )
• 电磁透镜不能发散。( )
• 透射电子显微镜可以观察晶体的结晶过程。( )
• 透射电子显微镜的分辨率现在能达到<0.1 nm。( )
• 透射电子显微镜能够看到X-射线能谱。( )
• STEM图像是一个直接的原子列图像。( )
• 高分辨率透射电子显微镜()图像是一种相位对比度图像(间接图像)。对比度取决于离焦度。( )…
• 在图像平面上找到波函数的平方模量,以找到图像的强度。( )
• 用相位因子修改倒数空间中的波函数,也称为相位对比度传递函数,以解释像差。( )…
• 影响相移的因素:厚度、方向、散射因子、焦点和散光。( )
• 透射波和衍射波在晶体中穿过不同的距离每个衍射波都有自己的相位每个衍射波代表薛定谔方程的不同…
• 透射电镜的暗场图像在研究晶体缺陷和特定晶体相的成像中是有用的。( )…
• 透射电镜可用于识别陶瓷、多晶样品、位错和缺陷。( )
• 透射电镜的暗场图像是通过使用主孔径,从样本下面收集的图像中排除主(非散射的)光束而产生的。( )…
• 关于透射电子显微镜,下列说法错误的是__ A高电压透射电子显微镜需要极高的真空度,通常要达到10−…
• 通常三级的透射电镜三次放大图像的总放大倍数的计算方式为__,选项中的M为放大倍数,下边分别对应…
• 在透射电子显微镜中,关于亮场模式的说法错误的是__ A样品中较厚的区域或者含有原子数较多的区域…
• 下列不属于透射电子显微镜成像模式的是() A衍射衬度成像 B相位衬度成像 CZ衬度像 D电子能量…
• 一般来说,透射电子显微镜包含有__级透镜。 A1 B2 C3 D0
• 标准的透射电子显微镜需要将电子的通路抽成气压很低的真空,通常至少需要达到__帕 A10−4 B10-3 C…
• 下列不属于透射电子显微镜真空系统作用的是____ A可以在阴极和地之间加以很高的电压 B提高显示…
• 下列不是影响透射电子显微镜晶体消光距离的主要物性参数和外界条件是__? A晶胞体积 B结构因子 …
• 下列哪一个不属于构成透射电镜基本系统的为__ A电子光学系统 B真空系统 C遂穿电流系统 D供电…
• ___是决定透射电子显微镜分辨率的。 A物镜 B目镜 CCCD D,透镜个数
• 透镜的数目一般由透射电子显微镜所需的电子光学放大倍数决定,也取决于__ A透射电子显微镜的分辨…
• 下一代场发射电子枪的材料极有可能是__ A碳纳米管 B石墨烯 C有机钙钛矿 D氮化物钙钛矿…
• 晶格结构总共可以分为()大晶系,()个布拉维格子 () A5, 4 B6, 12 C7, 14 D8, 14…
• 以下哪个科研成果未使用透射电子显微镜()。 A准晶的发现 B表面重构的发现 C晶格成像 D界面的…
• 关于相差显微镜,下列哪项有误___ A利用了光的衍射和于涉特性 B可使相位差变成振幅差 C一般使…
• 透射电子显微镜的分辨力约为___ A0.2μm B0.2mm C0.2nm D0.2Å
• 晶体结构可以通过高分辨率透射电子显微镜来研究,这种技术也被称为___。当使用场发射电子源的时候…
• 由于电子束射入样品时会发生____,样品的衍射对比度信息会由电子束携带出来 A布拉格散射 B丁铎…
• 透射电子显微镜的成像原理不存在____情况 A散射相 B吸收相 C衍射相 D相位相…
• 晶体结构可以通过____来研究 A高分辨率原子力显微镜 B高分辨率光学显微镜 C高分辨率扫描电子…
• 由于电子束射入样品时会发生布拉格散射,样品的____对比度信息会由电子束携带出来 A干涉 B衍射 …
• 以下哪一种测量模式利用了相位衬度成像法() ASTEM BHRTEM CEELS DSAED
• 透射电子显微镜不包含____元件 A真空系统 B扫描探针 C电子发射源 D电磁透镜…
• 下列选项中透射电子显微镜不可以观测的是____ A矿石 B金属 C晶体的原子结构 D引力波…
• 透射电子显微镜包含有一个可能由____制成的电子发射源 A铝丝 B银丝 C金丝 D钨丝…
• 一下那种测量模式不属于透射电子显微镜() AHAADF STEM BADF STEM CCR AFM DEELS…
• 第一台透射电子显微镜在____年被研制研成功 A1961 B1951 C1941 D1931
• 第一台TEM由____和恩斯特·鲁斯卡 A马克斯·克诺尔 B卡尔·蔡司 C宾尼格 D列文虎克…
• 当放大率倍数较高的时候,复杂的____作用会造成透射电子显微镜成像的亮度的不同 A吸收 B波动 C…
• 在放大倍数较低的时候,TEM成像的对比度主要是由于材料不同的____和成分造成对电子的吸收不同而造…
• 透射电子显微镜的放大倍数为____倍 A几万~十万 B几万~百万 C几千~千万 D几万~亿…
• 透射电子显微镜的英文缩写是____ ASTM BTEM CCRAFM DAFM
• 透射电子显微镜的分辨率比光学显微镜____ A低 B高 C相似 D高得多
• 电子碰撞的立体角的大小与样品的____、厚度相关 A质量 B体积 C密度 D原子序数…
• 透射电子显微镜是利用电子碰撞的立体角____ A散射 B反射 C折射 D穿透…
• 透射电子显微镜是利用___与样品的相互作用 A分子 B电子 C原子 D离子…

第四章 扫描隧道显微镜基本原理与应用

• STS谱学可用于研究电子态、自旋态、电子输运性质( )
• 图中表示的是在样品上加偏压,且偏压大于0的情况。( )
• 严格地说,扫描隧穿显微镜不能区分原子种类。( ) 10针尖的粗细与扫描成像的分辨率无关。( )…
• 遂穿电流的Bardeen近似表达式中,表示遂穿矩阵元的是()  AEF B CM D
• 下图所展示的是二维()晶系  A六角 B斜方 C长方 D正方
• 下图展示的扫描隧道显微镜的那种测量模式()  ​​​​​​​ A恒高测量模式 BdI/dV模式 C恒…
• 下图展示的是()  ​​​​​​​ A减震系统 B低温系统 C磁体 D透射电子显微镜…
• 下图所展示的是表面重构中的()  A表面吸附 B成对重构 C缺陷重构 D表面驰豫…
• 下图所展示的是通过扫描隧道显微镜获得的()  ​​​​​​​ A原子结构 B分子结构 C轨道结构 D…
• 下图的晶格重构可以表示为() 
• 下图显示的情况是()  A通过电化学腐蚀获得的探针 B被附着异物的探针 C通过剪刀获得的探针 …
• 下图的量子围栏是通过什么技术实现的()  ​​​​​​​ A扫描隧道显微技术 B原子力显微技术 C…
• 扫描隧道显微镜的原理可以理解为:假设一个“狮子”能跳起的能量高度为E,在他面前有一个能垒U,已…
• 根据以下拜登模型的公式,Tersoff-Hamann假设是()   A 为常数 B 为常数 C针尖与样品之间的…
• 对于半导体的近自由电子情况,哪项是半导体的能带宽度?( )
• 下面哪一项与隧穿电流无关( )
• 电子遂穿是一种量子效应()
• 表面重构标记法E() p X q 中E为衬底元素符号,()为再构表面的晶面指数。()…
• 表面重构包含晶格驰豫、表面吸附()
• 表面晶格驰豫改变了表面的晶格周期性( )
• 同一种表面重构可以有不同的标记方式( )
• 二维晶系包含四种平面晶系,五种布拉维格子( )
• 首次实现原子操控是通过扫描隧道显微镜技术( )
• 扫描隧道显微镜需要在高真空环境下工作( )
• 扫描隧道显微镜没有使用到锁相放大技术( )
• 微分电导dI/dV谱可以用于研究能带结构( )
• 扫描隧道谱学的测量方式简称为STS( )
• 功函数的数量级为meV ( )
• 电子从样品遂穿至探针,电流方向为探针流向样品( )
• 功函数的含义为电子从金属逸出至无穷远处所需要的最小能量( )
• 扫描隧道显微镜主要利用了探针与样品的接触电流。( )
• 原子力显微镜在某些材料的表征可以达到原子分辨。()
• 原子力显微镜的工作原理主要是测量针尖与样品表面原子之间的相互作用力。()…
• 1986年诺贝尔物理学奖主要是为了表彰电子显微镜与扫描隧道显微镜的发明。()…
• 扫描隧道显微镜的发明要早于原子力显微镜的发明。()
• 能量分辨主要受温度的限制,在有限温度下,电子的费米-狄拉克分布函数并不是阶跃函数,而是有一定的…
• 扫描隧道显微镜在恒流模式下,针尖扫过样品的同时控制电流相同,针尖就会随着样品起起伏伏,就记录…
• 扫描隧道显微镜更适合安装在一层或地下室( )
• 扫描隧道显微镜的纵向分辨率仅与探针大小有关( )
• 一般直接用剪刀剪切铂-铱合金就可以得到扫描隧道显微镜的针尖。( )…
• 扫描隧道显微镜的能量分辨主要与温度相关( )
• 扫描隧道显微镜可以研究表面重构现象( )
• 针尖的结构是扫描隧道显微镜技术要解决的主要问题之一。针尖的大小、形状和化学同一性不仅影响着…
• 扫描隧道显微镜可以让科学家观察和定位单个原子,它具有比原子力显微镜更加高的分辨率。( )…
• 针尖的粗细与扫描成像的分辨率无关。( )
• 严格地说,扫描隧穿显微镜不能区分原子种类。( )
• 电子在能级之间只能平行隧穿。( )
• STM不适合测量最表面原子排布( )
• 针尖越细,分辨率越高。( )
• 样品端和针尖端的电压必须保持一致,扫描隧道显微镜才能正常工作。( )…
• 恒流模式和恒高模式都是扫描隧道显微镜的常用模式。( )
• 量子隧穿效应可以解释扫描隧道显微镜的工作原理。( )
• 能量分辨率除了受温度影响,还受针尖形状,针尖原子轨道(s,p,d,f轨道),针尖原子排布形态的影响。( …
• 扫描隧道显微镜是由下列()科学家发明的 ACarl Zeiss与Otto Schott BKnoll与E.Ruska CChristop…
• 二次微分谱d2I/dV2()反映了() A分子的振动态 B能带结构 C轨道能级 D功函数…
• 当表面重构的矩阵表述方式中存在无理数时,该重构可以被认为是() Asimple superlattice Bincomm…
• 下图所展示的是二维()晶系  ​​​​​​​ A六角 B斜方 C长方 D正方…
• 扫描隧道显微镜的横向分辨率约为() A0.1 A B0.1 nm C0.1 μm D0.1 mm
• 遂穿矩阵与下列哪个因素不相关() A势垒高度 B势垒宽度 C扫描模式 D电子能量…
• 探针与样品之间的间隙可以作为()来处理 A介质层 B空气层 C惰性气氛层 D真空层…
• 下图展示的扫描隧道显微镜的那种测量模式()  A恒高测量模式 BdI/dV模式 C恒流测量模式 D原…
• 一下不是扫描隧道显微镜工作环境的是() A液态环境 B高真空环境 C强磁场环境 D极低温环境…
• 以下哪个不是扫描隧道显微镜的主要部件() A探针 B遂穿电流放大器 C减震部件 D光学透镜…
• 具有原子分辨技术的显微镜,除了扫描隧道显微镜,还有() A光学显微镜 B扫描电子显微镜 C扫描透…
• 当探针沿物质表面按恒高模式扫描时,因样品表面凹凸不平,使探针与物质表面间的距离不断发生变化,…
• “中心偏移”是指扫描的中心位置与初始进针时中心位置的偏移距离。中心偏移的最大偏移量是()决定…
• 改变扫描隧道显微镜的探针水平移动的方向,会使扫描得到的图象发生() A旋转 B平移 C镜像 D变…
• 以下哪一种显微镜是利用材料的自旋极化效应进行测试的?() ASEM(扫描电子显微镜) BHAADF(高角度…
• 我们通过扫描隧道显微镜看到的原子是() A原子的原子核 B包括电子在内的整个原子 C电子状态密…
• 扫描隧道显微镜得到的视图是() A电子云的外层等电子状态密度面 B原子核的外层等电子状态密度面…
• 增加恒定电流模式下的隧穿电流,探针会发生什么变化?() A探针会更贴近原子 B探针会更远离原子 …
• 扫描隧道显微镜工作在恒定电流模式时,图像会是一个在三维空间中的等价平面。在这个等价平面上,具…
• 自旋极化扫描隧道显微镜(Spin-polarized STM)的应用不包括以下哪项() A纳米条纹和纳米线的磁畴…
• 当厚度方向增加1Å时,电流减小约()个量级。 A1 B2 C3 D4
• 电子越过势垒,达到隧穿效应的概率与以下哪项无关( ) A探针扫描方向 B势垒大小 C势垒宽度 D电…
• 以下选项中,扫描隧道显微镜的分辨率不受什么影响?() A温度 B针尖原子排布形态 C针尖形状 D真…
• 扫描隧道显微镜采用恒高模式时,LDOS随着()发生变化 A能量 B空间 C材料密度 D不同原子种类…
• 假设扫描隧道显微镜的针尖态密度和隧穿矩阵元不随能量变化: dI/dV反应的是样品的() A轨道态密度…
• STM工作台的减震包括() A弹簧,橡胶垫,气垫 B工作台,弹簧,橡胶垫 C橡胶垫,缓冲胶墩,弹簧 D真…

第五章 原子力扫描技术原理与应用

• 铁电畴的翻转不能够通过施加电压来实现的( )
• 原子力测试时扫描速度是通过扫描频率设置的吗 ( )
• 样品表面镀电极之后仍然可以进行磁力扫描显微镜测试。( )
• 样品表面镀电极之后仍然可以进行压电力显微镜测试。( )
• 原子力显微镜只能表征样品表面信息,不能测试样品内部性质。( )
• 测试生物材料(如DNA)时应当首选非接触模式。( )
• 写畴过程中针与样品之间接触的越紧密越好。( )
• 测杨氏模量的过程中针尖损坏对测试结果影响不大。( )
• 测试较软的样品时应当选用较软的探针。( )
• 轻敲模式比接触模式更容易损坏样品。( )
• 扫描速率应随着扫描范围的扩大而降低。( )
• PID控制频率过高会导致测试得到的图像失真。( )
• 低温原子力显微镜采用干涉传感检测法探测探针悬臂的震动。( )
• 压电力显微镜振幅图与相位图必须吻合才能证实测试结果的准确。( )
• 原子力显微镜不能测试绝缘体。( )
• 原子力显微镜通过激光放大探针悬臂的震动。( )
• 原子力显微镜测试时扫描速率越快越好。( )
• 矢量压电力显微镜可以同时得到面内横向和纵向两个方向的相位图。( )…
• 样品能不能成功写畴与样品厚度无关。( )
• 比较不同样品之间表面电势时,所有样品必须接地。( )
• 若压电力显微镜模式测出的相位图与形貌差别较大,则应视为假信号。( )…
• 探针装好之后应当用手触摸探针检查探针是否松动。( )
• Contact mode测试时,探针与样品之间的作用力是排斥力。( )
• 探针尖端半径的大小,会影响横向分辨率。( )
• 探针尖端半径的大小,会影响纵向分辨率。( )
• 30 nm的CuInP2S6的PFM测试(如下图a-c所示),发现没有amplitude和phase衬度。但是SSPFM测试得到如…
• 接触共振显微镜利用探针-样品系统的接触共振频率进行弹性模量成像。( )…
• 磁力显微镜是利用磁力与探针振动间的相互作用进行成像的。( )
• 静电力显微镜需要进行二次扫描。( )
• 磁力显微镜不需要进行二次扫描。( )
• 压电力显微镜是基于轻敲模式进行成像的。( )
• 静电力显微镜是基于接触模式进行成像的。( )
• 导电力显微镜是基于接触模式进行成像的。( )
• 摩擦力显微镜是基于接触模式进行成像的。( )
• 磁力显微镜是基于轻敲模式进行成像。( )
• 样品表面静电电荷对压电力显微镜成像质量没有影响。( )
• 压电力显微镜要求样品必须有底电极。( )
• 双频共振压电力显微镜能够有效降低共振频率偏移带来的干扰。( )
• 压电力显微镜可用于表征样品的压电响应。( )
• 相比于接触模式,轻敲模式具有更高的表面形貌成像分辨率。( )
• 相相比于接触模式,轻敲模式能减少针尖对样品表面的损伤。( )
• AFM探针的基本结构由基片、微悬臂梁、针尖组成。( )
• AFM探针的弹性常数k越高,其基础共振频率越高。( )
• AFM探针针尖曲率半径越大,图像扫描的横向分辨率越高。( )
• 探针-表面的相互作用力可通过监测微悬臂梁的弯曲变形程度获得。( )…
• 扫描探针显微镜是利用探针与样品间的不同相互作用类型来研究样品的不同特性。( )…
• 原子力显微镜可以测试块体、薄膜,但是测不了粉末状的样品。( )
• 原子力显微镜测试导电样品的I-V需要用导电的探针,测PFM时不需要。( )…
• 原子力显微镜也可以用来做纳米压痕测试。( )
• LFM是可以用来测量样品表面的摩擦特性。( )
• PFM指的是压电力响应显微镜。( )
• EFM指的是磁力显微镜。( )
• 在原子力显微镜()测试时应尽可能的降低环境中的噪音。( )
• 原子力显微镜()测试材料的翻转曲线时需要连接底部电极。( )
• 原子力显微镜()测试材料的铁电畴时必须连接底部电极。( )
• 原子力显微镜()测试材料的I-V曲线时需要连接底部电极。( )
• 原子力显微镜()与扫描隧道显微镜()最大的差别在于并非利用电子遂穿效应,而是利用原子之间的相互…
• 在扫描粗糙度很大的样品时,应该尽可能降低扫描速率。( )
• 光照与否对原子力显微镜()形貌的测试没有影响。( )
• 正常情况下,原子力显微镜()测试对被测样品的软硬没有要求。( )
• 由于是接触式扫描,在接触样品时可能会使样品表面弯曲。经过多次扫描后,针尖或者样品有钝化现象。…
• 对不易变形的低弹性样品应该选用劲度系数更大的探针。( )
• 原子力显微镜()制样对样品导电与否没有要求,可以很平也可以不那么平,对表面光洁度有一定要求,测…
• 原子力显微镜的PFM模式可以用来表征铁电材料的畴结构,如果在铁电材料上镀一层金膜,对测试没有影…
• 原子力显微镜可表征硬质材料的形貌,也可用于软材料(生物细胞)的形貌测试。( )…
• 原子力显微镜可表征固体形貌,但无法在液体环境中测试。( )
• 压电力显微镜利用了材料的()性质 A力电耦合 B自旋极化耦合 C自旋轨道耦合 D力-化学势耦合…
• 调整原子力显微镜()探针激光Sum值时,哪种情况最好____ A越小越好 B越大越好 C等于3.5最好 D…
• 对于长时间使用的原子力显微镜()探针,如何提高扫描精度____ A打磨针尖 B重新做镀层 C换新探针…
• 进行力校准过程中,需要利用下图中的哪个过程?() 
• 热校准劲度系数的原理与以下哪个物理量无关 () A温度 B玻尔兹曼常数 CInvOLS D激光强度…
• 在磁力扫描测量模式中,如果遇到了较强的表面静电力作用,可通过哪种方法消除表面静电力?() A增加…
• 下列关于AFM说法正确的是:() APFM测试必须使用导电探针夹。 BLFM测试必须使用导电探针夹。 CC…
• 下图是同一个悬臂梁上的两根扫描探针,两者通常具有不同的()?  A弹性常数 B半径大小 C探针材…
• 下图展示了改变PID参数中的哪种情况()  AI值过小 BI值过大 CP值过大 DD值过大…
• 以下哪种情况不是造成扫描形貌假象的原因() A探针上的附着物 B未优化的PI值 C超出了压电陶瓷…
• 在接触模式下测量形貌,如下图所示表明探针遇到了()  ​​​​​​​ A凹陷 B突起 C粘附物 D…
• 下图是一副关于铁电聚合物P(VDF-TrFE)单晶薄膜中发现的具有反耦合手性畴的同心圆拓扑结构的图片,…
• 导电AFM可以用来测量电流,其电流会受到噪声的影响,下列哪种方法不能降低电流噪声?() A降低扫描…
• 新手小洪同学在学习AFM期间,练习测试铁电单晶的表面形貌,得到的形貌结果如下图所示,呈现严重的凹…
• 图()是小洪同学通过PFM测试得到的铁电畴结构的原始图片,相位为21°至134°,但发表论文时通常使用…
• 下图分别是小王和小张同学测试得到的铁电畴相位,同一铁电畴的相位结果却截然相反,原因很可能与什…
• 小王同学通过原子力测试得到了一张样品形貌图,可惜里面有一条坏线,以下哪个方法能帮他解决烦恼?(…
• 当在扫描的过程中需要改变探针-样品接触力时,最恰当的做法时() A调节deflection B调节setpoint…
• 使用AFM扫描样品形貌时,trace与retrace重合不好,该怎么做?() A抬起扫描头,手动调整 B拍拍桌子,…
• 原子力显微镜探针扫描速率过快会导致( ) A探针损坏 B扫描图像更清晰 C显微镜灵敏度提高 D扫…
• 原子力显微镜中通过( )来探测探针悬臂的微小震动。 A悬臂上下电势差 B从悬臂上反射的激光 C通…
• 下列哪种测试可以得到掩埋结构的信息( ) A轻敲模式 B压电力显微镜模式 C扫描微波阻抗显微镜模…
• 原子力显微镜的最大测试范围取决于( ) A压电陶瓷线性区间 B探针尖端曲率半径 C样品尺寸 D操…
• 驱动原子力显微镜中样品台运动的是( ) A压电陶瓷 B高精度步进电机 C液压驱动 D手动调整…
• 下列那种测试不能表征样品表面粗糙度( ) A轻敲模式 B压电力显微镜模式 C单点翻转模式 D磁力…
• 下列测试中探针与样品必须连成回路的是( ) A轻敲模式 B导电原子力显微镜模式 C横向力模式 D…
• 下针过程中激光sum值突然大幅减小,应当( ) A立即抬针 B调整激光 C重启仪器 D直接关闭电源…
• 下列哪种测试必须选用导电探针( ) A轻敲模式 B压电力模式 C横向力模式 D磁力扫描模式…
• 接触模式下探针与样品之间的主要作用力是( ) A吸引力 B排斥力 C粘附力 D静电力…
• 小江测试样品表面的摩擦力,想测得更清晰,以下哪项操作没用?( ) A选用更尖的探针 B选用AC Air T…
• 小张测试样品的形貌,想测得更清晰,以下哪项操作没用?( ) A选用更尖的探针 B选用AC Air Topogra…
• 原子力显微镜不能表征样品的____性质? A形貌 B表面粗糙度 C三维形貌 D声子振动…
• 扫描微波阻抗显微镜可以表征样品的____? A弹性 B粘性 C介电性与导电性 D杨氏模量…
• 振幅调制力显微镜AMFM的相位图像直观反映样品的____性质? A弹性 B粘性 C压电性 D导电性…
• 下面哪种测试适合使用悬臂梁弹性系数k更小的扫描探针？
• 一般来说,原子力探针的悬臂梁越长,弹性常数越大。( )
• 使用原子力显微镜扫描时,激光是照在针尖上的( )
• 使用导电原子力模式可以测试铁电畴的畴结构 ( )
• 探针在长期使用磨损后应如何处理可直接丢弃在垃圾桶。( )
• 原子力显微镜探针在转配到Holder上时只能使用专业的镊子。( )
• 原子力显微镜探针的针尖只有在电子显微镜下才能看清。( )
• 原子力扫描探针的悬臂梁可以在光学显微镜清晰分辨( )
• 压电力测试材料铁电畴时,材料底部是不需要导电电极的?( )
• 原子力显微镜的分辨率高于透射电镜的分辨率( )
• 利用导电力模式测试材料表面电流时,针尖必须接触材料表面( )
• 压电力模式测试没有观察到铁电畴代表没有铁电性 ( )
• 横向力测试模式可以测量材料表面形貌( )
• 原子力探针施加力的大小可以通过设置setpoint值来改变 ( )
• 材料表面摩擦力性质是可以通过横向力模式测试得到( )
• 铁电畴的翻转能够通过原子力探针施加集中力来实现的 ( )
• 压电力显微镜的振幅图像直观反映铁电材料的____性质? A静电力 B力电耦合 C形貌 D表面电势…
• 接触共振显微镜可以从____图像中得到弹性模量分布信息? A振幅 B相位 C频率 D高度…
• 磁力显微镜可以从____图像中得到磁力分布? A振幅 B相位 C高度 D挠度…
• 开尔文探针力显微镜需要进行____次扫描成像? A1 B2 C3 D4
• 对于较硬的陶瓷或金属样品,应采用____描述针尖与样品表面间相互作用? AHertz模型 BDMT模型 CJ…
• 接触模式主要利用针尖与样品表面的哪种相互作用力____? A排斥力 B吸引力 C静电力 D磁力…
• 以下哪个不是原子力显微镜的基本成像模式____? A接触模式 B非接触模式 C透射模式 D轻敲模式…
• 光电检测器划分为____个光敏检测象限? A1 B2 C3 D4
• 研究磁性材料的磁畴结构应采用____成像? AMFM磁力显微镜模式 BPFM压电力显微镜模式 CSKPM表面…
• 研究铁电材料的铁电畴结构应通常采用____成像? AMFM磁力显微镜模式 BPFM压电力显微镜模式 CSK…
• 导电原子力显微镜所测量的电流范围大致为____ ApA-nA BnA-mA CmA-A DfA-pA…
• 小高需要给薄膜写畴,需要用到原子力显微镜()的哪个模块____ ACR-AFM(接触共振原子力显微镜) BP…
• 小明想表征样品表面摩擦力的大小,需要用到原子力显微镜()的哪个模块____ ACR-AFM(接触共振原子…
• 在进行表面电势测量过程中,如果我们想要定量的获得表面电势,以下的那个操作不是必须的?() A标准…
• 测试样品的表面电荷状况,需要用到原子力显微镜()的哪个模式____ ACR-AFM(接触共振原子力显微镜)…
• 小王用接触模式测形貌,结果不够好看,需切换到原子力显微镜()的哪个模式____ ACR-AFM(接触共振原…
• 小王想测试一个铁电样品的等效压电系数,需要用到原子力显微镜()的哪个模块____ ACR-AFM(接触共…
• 小明在用原子力探针做哪项测试需要导电模块____ AI-V曲线 B杨氏模量 C形貌高度 D极化翻转曲…
• 小明想测试自己头发的杨氏模量大小(≈2.05 GPa),需要用到标准样品作参考,建议用以下哪种材料____…
• 小明接到王老师安排的原子力显微镜()探针采购任务,需要买一批导电探针,以下哪种镀层的不合适 ___…
• 小明想测自己头发的杨氏模量大小,需要用到原子力显微镜()的哪个模块____ ACR-AFM(接触共振原子…
• 做PFM(压电力响应显微镜)测试时,探针悬臂的方向应该与扫描方向成多大的角度最合适____ A60° B…
• KPFM(开尔文探针力显微镜)与哪一个电路元件工作原理类似____ A电感 B电阻 C电容 D忆阻器…
• CR-AFM(接触共振原子力显微镜)是基于哪一个力学模型或者原理____ A赫兹模型 B圣维南原理 C冯…
• 原子力显微镜()不可以测试哪些物理参数____ A杨氏模量 B形貌高度 C电导率 D电极化强度…
• 以下哪个属于电学模块____ ATapping (轻敲式)mode BCR-AFM (接触共振原子力显微镜)mode CLFM(…
• 以下哪个不属于电学模块____ ALFM(横向力显微镜) mode BC-AFM(导电原子力显微镜)mode CSKPM(…
• 原子力显微镜()在水平方向的分辨率约为____ A1 nm B10 nm C0.1 nm D100 nm
• 原子力显微镜()在垂直方向的分辨率约为____ A1 nm B10 nm C0.1 nm D100 nm
• 对于柔软、易脆和粘附性较强的样品的形貌测试,我们应该优先选则AFM的哪种模式____ ALateral For…